基于ATE的USB PD快充协议芯片晶圆测试

来源 :电子与封装 | 被引量 : 0次 | 上传用户:dawancha2010
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介绍了一款USB功率传输(Power Delivery,PD)快充协议芯片的晶圆测试方法.基于Chroma 3380P测试系统,通过对USB PD快充协议芯片测试要求进行分析,设计了双site并行测试外围电路,实现了对该USB PD快充协议芯片的主要功能与性能参数测试.该方案能够作为通用测试方法供USB PD快充协议芯片测试设计参考.
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