介孔材料MCM-41和半导体的组装与表征

来源 :吉林大学学报:理学版 | 被引量 : 0次 | 上传用户:gaoyijie1983
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在室温下制备介孔材料MCM-41,将稀土离子铕和半导体材料CdS组装到MCM-41孔道中,制得CdS/Eu—MCM—41复合介孔材料.采用X射线衍射、红外光谱、N2吸附脱附、紫外-可见漫反射和激发与发射光谱等技术对样品的结构性能进行表征.结果表明,复合材料CdS/Eu—MCM—41仍保持MCM-41的六方有序结构,并证明Eu^3+和CdS组装到介孔孔道中.荧光光谱显示复合介孔材料发出荧光,并且在组装体中CdS的吸收边发生明显蓝移.
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