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采用非复位结构，在SMIC0．18μm CMOS工艺下，设计并实现了一种采样／保持电路，其性能满足10位精度、100MS／s转换速率的ADC的要求．电路在0～125℃，三种工艺角下仿真，其性能均满足要求；T／H电路的核心—OTA，经流片并测试，结果表明其功能正确，功耗与仿真值一致。
一种适合于高速、高精度ADC的采样/保持电路
【摘 要】
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采用非复位结构，在SMIC0．18μm CMOS工艺下，设计并实现了一种采样／保持电路，其性能满足10位精度、100MS／s转换速率的ADC的要求．电路在0～125℃，三种工艺角下仿真，其性能均满足要求；T／H电路
【机 构】
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复旦大学专用集成电路与系统国家重点实验室
【出 处】
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复旦学报(自然科学版)
【发表日期】
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2006年1期
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