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采用等离子体增强化学气相淀积(PECD)法在Si(100)衬底上淀积一层厚度约为170nm的富Ge高C含量的Si、-x-7GexCy薄膜,然后将其分别在800℃和1100℃下湿氧氧化20min。在室温下观测到强烈的光致发光,室温下的光致发光谱(PL谱)测量显示,800℃下氧化后的样品在370nm和396nm附近有两个光致发光带,1100℃下氧化后的样品只在396nm附近有一光致发光带,396nm附