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仪器的本底是空间天文观测项目实施过程中关注的一个重要内容,对于聚焦型空间X射线望远镜,仪器的粒子本底水平直接关系到观测灵敏度及本底重建的系统误差.因此,在仪器设计及工程实现迭代过程中,需要确定仪器粒子本底水平,保证其在可接受范围内.本文发展了一种基于面密度插值快速估计聚焦型空间X射线望远镜粒子本底的方法,该方法同时具有较高的本底估计精度和快的计算速度,适合于在望远镜方案设计的早期对各种设计方案的本底屏蔽效果进行快速估计并据此提出优化设计的建议,可以大大提高早期方案设计的有效性,对于聚焦型空间高能天文仪器的研制及其他类似领域具有一定的参考意义.