基于量子化、芯片化的先进计量测试技术发展动态

来源 :宇航计测技术 | 被引量 : 0次 | 上传用户:lelerui
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计量是国家质量基础的重要组成部分,产品质量的提升离不开科学、精准的计量.工业发达国家极为重视计量测试技术的发展.通过搜集、整理量子效应计量、芯片级计量等国内外大量文献资料,归纳分析了近年来国外先进计量测试技术发展动态与趋势.以量子技术和基本物理常数为基础建立量子计量基标准,将大幅提高测量准确度和稳定性,结合量子效应的微加工技术实现芯片尺度的测量等,微纳尺度计量技术也在科学研究、精密测量、智能制造等领域得到广泛应用.本文可为我国计量技术发展提供借鉴.
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