沉积温度对中频磁控溅射制备含氢非晶碳膜表面形貌和力学性能的影响

来源 :长春理工大学学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:ZT0009
下载到本地 , 更方便阅读
声明 : 本文档内容版权归属内容提供方 , 如果您对本文有版权争议 , 可与客服联系进行内容授权或下架
论文部分内容阅读
作为红外窗口的保护层,含氢非晶碳膜(a-C:H)是薄膜材料研究的热点。本文利用中频非平衡磁控溅射技术,以氩气和甲烷混合气体为工作气体,在单晶硅片上沉积含氢的a-C:H膜。改变沉积温度,制备常温和加温到80℃、120℃、150℃四种不同的溅射温度下沉积的a-C:H膜,发现薄膜的表面形貌、纳米硬度与沉积温度的变化不是成简单的线性关系。用Raman和FITR分析了引起a-C:H膜表面形貌和力学性能变化的原因。结果表明,Raman和FITR分析表明基体温度为80℃以上沉积的膜中化学结构是以sp^2键和C-H键非刚
其他文献
Non-adaptive group testing(NGT)算法在许多领域中都有着非常广泛的应用,而d-disjunct矩阵是NGT算法的一个重要的数学模型.研究了n阶射影平面上d-disjunct矩阵的构作并分析了
这一次的采访尤为特别。身为山推苏沪办事处主任的薄炜,行色匆匆,分身乏术,着实抽不出时间,于是我们灵机一动,把采访安排到了饭桌上。酒至微醺,往往是人生最自如的状态,见时机已到,记