论文部分内容阅读
智能电器中数字电路的高度集成化使测试难度增强,测试和维护已成为超大规模集成电路的关键问题。基于数字电路自动测试系统的构建,针对阻碍测试向量生成的冗余故障,提出在测试前将其剔除以提高测试生成效率的方案。设计并实现了基于冲突赋值的冗余故障分析算法,基于国际标准测试电路ISCAS85和ISCAS89的实验结果表明,该方法可准确识别大量冗余故障。