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目的:观察神经干细胞条件培养基对氧化应激损伤小鼠皮层神经元的保护作用。方法:分离培养C57BL/6新生鼠神经干细胞及皮层神经元,随机分为4组:对照组(Control组)使用神经元培养基持续培养;单纯氧化应激实验组(H2O2组)加入1 mmol/L H2O2孵育1 h后更换神经元培养基;神经干细胞条件培养基干预组(H2O2+NSC-CM组)加入1 mmol/L过氧化氢孵育1 h后,更换半量神经干细胞条件培养基及半量神经元培养基;神经干细胞普通培养基干预组(H2O2+NSC-FM组)在加入H2O2孵育1 h后,更换半量未培养细胞的神经干细胞培养基及半量神经元培养基。各组实验24 h后使用CCK8法观察细胞活性,使用Hoechest33342对细胞核染色,根据核固缩水平检测细胞凋亡,测量神经突长度及数量,使用ROS试剂盒检测活性氧生成情况。结果:H2O2组神经元细胞活性为(23.60±4.78)%,H2O2+NSC-FM组为(25.00±5.92)%,均较Control组[(100.00±1.41)%]明显减少(P<0.05),而H2O2+NSC-CM组[(45.40±8.99)%]较H2O2组则有明显提升(P<0.05)。H2O2组细胞凋亡比例为(69.00±5.43)%,H2O2+NSC-FM组为(62.20±9.31)%,均较Control组[(13.40±2.70)%]明显增加(P<0.05),而H2O2+NSC-CM组[(38.40±9.61)%]较H2O2组则有明显减少(P<0.05)。最长神经突长度在H2O2组为(28.15±4.16)μm,H2O2+NSC-FM组为(27.05±4.67)μm,均较Control组[(45.20±4.01)μm]明显缩短(P<0.05),而H2O2+NSC-CM组[(35.00±2.99)μm]较H2O2组则有明显增加(P<0.05);使用Sholl模块发现,距离神经元胞体10、20、30、40、50μm范围H2O2组和H2O2+NSC-FM组神经突数量较Control组明显减少(P<0.05),H2O2+NSC-CM组神经突数量较H2O2组则有一定增加(P<0.05)。H2O2组活性氧生成为(69.00±5.43)%,H2O2+NSCFM组为(62.20±9.31)%,均较Control组[(13.40±2.70)%]明显增加(P<0.05),而H2O2+NSC-CM组[(38.40±9.61)%]活性氧生成较H2O2组则有明显减少(P<0.05)。结论:神经干细胞条件培养基能够一定程度抑制小鼠皮层神经元氧化应激损伤。