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为了确保表面安装封装体优良的焊点连接,减少LSI封装的翘曲是一关键性的问题.把有限元和各种计算方法进行不同地结合,是研究预测薄型小外形封装(TSOP)翘曲问题的最佳方法.研究结果表明预测翘曲问题最合适的方法是使用多层壳体元缩减切变模量和体积模量,计算出粘弹性GK.所有的计算结果证明化合物厚度比为1.2,会使大芯片TSOP的翘曲问题最小化.对小芯片TSOP而言,化合物厚度比为2.0～2.9,减轻了封装翘曲问题.小芯片TSOP的翘曲显示出严重的鞍形状况.封装的翘曲率及翘曲幅度依赖于模塑料的特性.