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目的
测量成人下颌磨牙后区大小并分析其与第三磨牙状态的关系。
方法采用CBCT对86例成年骨性Ⅰ类均角患者根据第三磨牙状态进行分组，从三维方向对右侧下颌磨牙后间隙进行测量。在水平面上沿POL线(第一磨牙与第二磨牙颊尖连线)测量下颌
平面(以及从下颌
平面向根方2 mm的平面)处第二磨牙牙冠到升支前缘的最短距离。牙根层面的测量以釉牙骨质界为参考，在其根方2、4、6、8、10 mm的水平面上沿POL线测量第二磨牙牙根与下颌骨舌侧内层骨皮质的最短距离。
无第三磨牙组、正常萌出组、水平阻生组、近中阻生组、垂直阻生组牙冠部的远移可用间隙均大于根部；在所有的测量平面上，正常萌出组和垂直阻生组的可利用间隙都不小于无第三磨牙组、水平阻生组、近中阻生组。
结论成年骨性Ⅰ类均角患者的下颌磨牙远移，应更多地考虑下颌磨牙后舌侧骨皮质的影响，而参考CBCT比二维影像资料具有更高的准确性。另外，下颌第三磨牙的萌出、阻生状态也会对下颌磨牙远移产生不同影响。