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2001,收获与希望
【机 构】
:
本刊评论员
【出 处】
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前线
【发表日期】
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2001年12期
其他文献
提出了用X射线荧光光谱法同时测定电子电气设备中限制使用物质铅、汞、铬、镉和溴的一种新的测试方法.研究了金属材料基体、聚合物基体和不同电子产品等基体对待测元素的影响