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为缓解负偏置温度不稳定性（negativebiastemperatureinstability，NBTI）效应引起的电路老化，提高电路可靠性，提出一种在电路待机状态下应用输入向量约束的门替换方法．运用动态和静态的NBTI模型进行感知NBTI的静态时序分析，确定潜在关键路径，考虑路径相关性的关键门算法以确定关键门，并生成能使关键门最大限度处于恢复阶段的输入向量．对输入向量无法控制的关键门采用门替换方法进行内部控制．对ISCAS标准电路的实验结果表明，电路时序余量为5％时，该方法的平均门替换率降低到9．68％