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在集成电路开发中，原型芯片硅后可观测性差，使得硅后调试变得异常困难，延长了芯片的开发周期.基于追踪的可调试性设计通过在芯片中添加追踪缓存以存储关键的追踪信号，可提高芯片的可观测性.但由于调试硬件开销有限，如何选择有限的追踪信号以提高芯片可观测性成为硅后调试的研究热点.该文提出了一种基于寄存器簇恢复的追踪信号选择方法，其可分为两步：寄存器簇生成、寄存器簇融合和选择，其中寄存器簇生成根据寄存器的反馈环信息构建初始寄存器簇，而寄存器簇融合和选择可以通过簇合并优化初始寄存器簇，并选择对状态恢复率提升最大的寄存器簇