IEGT的高温特性与闩锁失效分析

来源 :固体电子学研究与进展 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xumin7777
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介绍了平面栅电子注入增强型栅极晶体管(IEGT)的闩锁效应,讨论了温度对关键特性参数如通态压降、正向阻断电压及开关时间的影响.利用ISE软件模拟了IEGT在高温下的导通特性、阻断特性和开关特性,分析了IEGT在高温下的失效原因,提出了改善其高温安全工作区(SOA)的措施.
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