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采用漫反射红外光谱法（DRIFT）研究了气相法白炭黑表面羟基的分布情况，并考察了热处理对其结构的影响。结果表明：气相法白炭黑表面羟基主要以孤立和邻位羟基为主，在漫反射红外光谱中的位置分别为3743cm^-1处和3684cm^-1处，随着温度的升高谱峰强度增加，邻位羟基经800℃热处理后谱峰消失。