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由Pindera等提出的等达因法导出了平面问题的三个应力分量,可以非破坏性测取受力物体内部的应力状态,是一种有效的光测技术.应力分量与等达因条纹级次的导数相关,为得到具有高测试精度的应力分量在等达因条纹测试中引入了双折射相移技术.文中提出了一种在散光激光入射光路中用加入一可调偏振片和一可调1/4波片实现散光图象双折射相移的方法,该方法设备简单,能保证总体光强的一致性.