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阐述了 5X密度磁光盘光学特性测试系统的结构原理与系统设计 ,并对其硬件电路系统和软件结构的设计作了详细的论述 .
5X密度磁光盘光持性测试系统设计
【摘 要】
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阐述了 5X密度磁光盘光学特性测试系统的结构原理与系统设计 ,并对其硬件电路系统和软件结构的设计作了详细的论述 .
【出 处】
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华中理工大学学报
【发表日期】
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2000年4期
【基金项目】
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国家科委“九五”重点科技攻关项目!( 96 E0 10 40 2 )
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