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针对用低能的实验室γ源激发高能物理实验中采用的高密度，低光产额的闪烁晶体来测量其光产额时闪烁体的γ能谱不易拟合的问题，论文在原有的卷积拟合算法的基础上发展了一种解析方法，该方法通过用一解析函数来近似γ能谱中的康普顿本底形状，把原来耗时的数值卷积过程简化为一个递推级数的计算，该方法在不损失拟合精度的情况下大大提高了数据处理速度。