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为对小型数字集成芯片进行测试和诊断,以89C51为微控制器芯片(MCU),74HC595和74HC165为被测电路的测试引脚扩展芯片,提出了一种数字集成电路测试仪的实现方案。利用MCU芯片对数字集成电路的测试引脚进行信号采集,通过比对后检测电路是否存在逻辑错误,并将结果发送到液晶显示器上显示。该系统结构简单,可以准确地对组合数字集成电路进行测试。