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对CMOS数字集成电路故障诊断技术的基本方法进行介绍,探讨了基于小波分析的CMOS电路瞬态电流IDDT故障诊断新技术的基本原理和作用.介绍了该故障诊断新技术的国内外研究动态,展望了其在超大规模集成电路的故障诊断、失效机理研究、可靠性提高等方面的作用、意义及其广阔的应用前景.
基于小波分析的CMOS电路IDDT故障诊断新技术
【摘 要】
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对CMOS数字集成电路故障诊断技术的基本方法进行介绍,探讨了基于小波分析的CMOS电路瞬态电流IDDT故障诊断新技术的基本原理和作用.介绍了该故障诊断新技术的国内外研究动态,
【机 构】
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西安电子科技大学微电子研究所,西安电子科技大学微电子研究所,信息产业部电子第五研究所
【出 处】
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电子产品可靠性与环境试验
【发表日期】
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2005年1期
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