HL—1装置放电坪区小破裂现象分析

来源 :核聚变与等离子体物理 | 被引量 : 0次 | 上传用户：hzq5157585

【摘要】

：

HL-1装置上观测到大量放电破裂现象,其中一类出现在电流坪段的小破裂现象,在文献上讨论很少,其产生时的安全因子是2.5≤qa≤4.5,密度为1×1013cm<

【作者】

：

严龙文石秉仁郑永真彭利林黄克强

【机构】

：

核工业西南物理研究院,核工业西南物理研究院四川,成都,四川,成都

【出处】

：

核聚变与等离子体物理

【发表日期】

：

1991年1期

【关键词】

：

HL-1装置放电坪区破裂弛豫振荡 Minor disruptions during current flat phase Relaxation osci

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HL-1装置上观测到大量放电破裂现象,其中一类出现在电流坪段的小破裂现象,在文献上讨论很少,其产生时的安全因子是2.5≤qa≤4.5,密度为1×1013cm-3≤n【3×1013cm-3或n≥4×1013

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