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T形结构在位测量薄膜中残余张应力的理论研究
T形结构在位测量薄膜中残余张应力的理论研究
来源 :半导体学报 | 被引量 : 0次 | 上传用户:beargtg
【摘 要】
:
给出了考虑梁的轴向载荷情况下理论计算公式的推导过程,在变形较大时两种公式计算结果最大相差9.65%.用LPCVD技术制作了几种大小不同的T形梁结构,给出了残余张应力与杨氏模量比值
【作 者】
:
徐方迁
徐联
何世堂
【机 构】
:
中国科学院声学研究所
【出 处】
:
半导体学报
【发表日期】
:
2004年5期
【关键词】
:
应力
膜
变形
stress
film
flection
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给出了考虑梁的轴向载荷情况下理论计算公式的推导过程,在变形较大时两种公式计算结果最大相差9.65%.用LPCVD技术制作了几种大小不同的T形梁结构,给出了残余张应力与杨氏模量比值。
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