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着重分析、探讨了加速离子迁移试验应用的可行性理论依据,提出用于模拟等效标准离子迁移试验方程.能够在标准离子迁移试验的1/2～1/3时间里获取直流绝缘子离子迁移情况的信息,缩短产品开发、研究、试验周期,根据离子迁移的情况变化,了解或确认直流绝缘子在离子迁移方面的失效是否有制造过程、材料缺陷等因素的能力,对提高直流绝缘子的可靠性大有裨益.