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现有的测试性验证试验方案,在一定的风险承受能力下都需要较大的故障样本量。针对这一问题,以故障检测率（Fault detectionrate,FDR）为验证指标,提出利用研制阶段试验数据制定测试性验证试验方案的新方法。在传统的FDR的统计检验模型基础上,提出产品研制阶段的成败型试验数据的等效折合方法;考虑Beta分布函数的概率特性,将FDR的置信下限估计转化为Beta分布的置信度分位点,求得FDR的置信概率密度函数;引入差异因子δ,用来反映研制阶段产品的FDR水平和产品验证需达到的FDR水平的差异,求得产品