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我们建立了重元素L壳层空位退激过程的计算模型。利用这个模型,分析了Croldberg用50keV电子激发金属元素、用弯晶谱仪测量到的LX射线强度谱,从而求得了从Ta到Bi 10个元素的L_1、L_2和L_3次壳层荧光产额ω_1、ω_2和ω_3。它们都与近几年国际上发表的实验值相符,但在Z=80号元素附近明显地与Krause的半经验汇编值不同。本工作得到的ω_1值在Z≈80处大约比汇编值大20％,比Chen等的理论值大55％。