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基于 ATE 的单总线芯片测试方法研究磁
基于 ATE 的单总线芯片测试方法研究磁
来源 :计算机与数字工程 | 被引量 : 0次 | 上传用户:xiao_zhuang_lin
【摘 要】
:
单总线芯片是指将地址线、数据线、控制线合为一根信号线的一类集成电路,论文通过研究基于自动测试系统的单总线芯片测试方法,以单总线温度传感器芯片 DS18B20为例,具体介绍了其
【作 者】
:
孙崇钧
【机 构】
:
武汉数字工程研究所 武汉 430205
【出 处】
:
计算机与数字工程
【发表日期】
:
2004年期
【关键词】
:
单总线芯片
测试程序
DS18B20
自动测试系统
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单总线芯片是指将地址线、数据线、控制线合为一根信号线的一类集成电路,论文通过研究基于自动测试系统的单总线芯片测试方法,以单总线温度传感器芯片 DS18B20为例,具体介绍了其测试程序的开发过程。
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