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随着微电子学的迅速发展,电路板的规模及芯片密度、复杂性大幅度增长,且由于集成电路技术的快速发展,测试代码技术远远跟不上需要。解决这一问题有两大途径,一是研究更有效的测试代码生成方法和故障仿真算法,二是采用可测性设计。第二种途径体现了新的测试与设计思想,即将测试与设计统一起来,从源头上解决问题。