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本文提出了一种通过改变线性反馈移位寄存器(LFSR)的结构实现低功耗内建自测试方法.在伪随机测试方式下,随着测试的进行,测试矢量的效率大幅降低.通过改变线性反馈移位寄存器的结构滤掉无效的测试矢量从而实现低功耗测试.实践证明,改变线性反馈称位寄存器的结构的方法是有效的并且对故障覆盖率没有影响.
一种新的低功耗内建自测法——线性反馈移位寄存器结构的更改
【摘 要】
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本文提出了一种通过改变线性反馈移位寄存器(LFSR)的结构实现低功耗内建自测试方法.在伪随机测试方式下,随着测试的进行,测试矢量的效率大幅降低.通过改变线性反馈移位寄存器
【机 构】
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东南大学国家专用集成电路系统技术研究中心
【出 处】
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电子器件
【发表日期】
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2002年3期
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