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用多模传输线模型对高功率微波与双层屏蔽腔体的孔缝耦合特性进行了研究，此方法可以考虑高功率微波孔缝耦合进入腔内时的较宽的频率范围。用这种模拟方法获得了双层屏蔽腔体微波耦合的一些规律性结果：双层屏蔽可以使得腔体内的耦合电场比单层屏蔽时有显著的减弱，这与FDTD方法的结论是一致的；双层屏蔽外腔体中的一些谐振会影响到内腔体的耦合系数，外腔体中的场模式经由内孔缝会影响内腔体中的场模式；不论是单层屏蔽还是双层屏蔽，保持每层孔缝总面积不变时，随着孔阵中孔缝数量的增加，进入腔体内的耦合电场也逐步地减弱，这与单层屏蔽时的结