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胚胎硬件的容错策略是影响阵列可靠性的重要因素，可靠性分析可从理论上得到理想的容错策略和阵列布局，为硬件优化设计提供目标．胚胎硬件可靠性分析的传统模型仅考虑阵列布局结构，视细胞为固定节点，不考虑容错电路设计中细胞内部电路模块的变化，未能全面反映电路设计的实际情况．针对这一不足，提出了新的可靠性模型，将细胞内配置存储器和输入输出布线器电路的变化情况引入到建模过程中，经过实例仿真分析，总结出了基于可靠性分析的容错策略选择方法和分析步骤，给出了可指导如何选择容错策略选择的量化条件．