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背景：荧光分子断层成像已经成为近年来发展很快的分子影像技术,噪声对这种成像技术提出了挑战。目前噪声对成像结果具体影响的研究还是空白。目的：利用基于解析解的自适应网格荧光分子断层重建方法,研究信号噪声对重建结果的影响。方法：在作者之前提出的基于解析解的自适应网格荧光分子断层重建算法的基础上,观察分析了噪声对荧光分子断层成像的影响。结果与结论：通过在仿真数据中添加噪声,得到了不同信噪比下的重建结果及噪声与重建精度之间关系的规律。实验结果表明,基于解析解的自适应网格荧光分子断层重建算法具有较好的抗噪性。