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介绍了用放射性同位素Ｘ射线荧光分析法检查了２４Ｋ金饰品质量的简便方法，该方法使用＾２４１Ａｍ和＾２３８Ｐｕ两种辐射源进行两次测量。
双源两次X射线荧光测量法鉴定金饰品质量
【摘 要】
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介绍了用放射性同位素Ｘ射线荧光分析法检查了２４Ｋ金饰品质量的简便方法，该方法使用＾２４１Ａｍ和＾２３８Ｐｕ两种辐射源进行两次测量。
【机 构】
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河北师范大学物理系
【出 处】
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核电子学与探测技术
【发表日期】
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1999年4期
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