论文部分内容阅读
在制备多孔硅材料时，多孔硅的多孔度和厚度与电解电流强度，电解时间以及氢氟酸的浓度有关，如果氢氟酸的浓度保持不变，通过改变电解时间和电解电流强度就可得到所多孔硅的多孔度及厚度，但现在一般则量设备来重复测量多孔硅的多孔度及厚度，特别是多层多孔硅，很难严格控制其厚度，为此，通过对多孔硅中载流子运动的研究，结合BET方程中的SBET定义，推导出多孔硅的多孔度，电解速度和电解电流强度之间的关系表达式，通过该理论公式，新可以保证精确得到多孔硅的多孔度及厚度，该理论公式得到实验的验证。