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在北京同步辐射装置的4B7A中能X光束线上,光源能区为2.1～6.0keV,能量分辨大于5000,高次谐波小于0.1%,光源强度大于10^9光子/s。通过全能区多能点的透过率精确测量Ag样品质量厚度,然后采用Ag薄膜对单能X光子的透过率进行测量,给出了Ag薄膜在吸收边（3.4～3.9keV）的衰减系数。建立了Ag样品吸收边附近衰减系数同步辐射测量方法。通过不确定度分析给出衰减系数测量不确定度小于1%,填补了在该区间衰减系数的空白。