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针对浅表层及粗晶材料,提出一种用小波变换与广义相关倒频谱分析相结合的缺陷诊断方法。该方法利用小波多分辨特性去除白噪声,利用广义相关倒频谱剔除始脉冲及材料散射噪声。实验结果表明：该方法提高了对浅表层及低信噪比缺陷的分辨力,缺陷诊断结果与实际结果相吻合,可用于浅表层及粗晶材料缺陷的诊断。
浅表层及粗晶材料缺陷超声诊断方法
【摘 要】
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针对浅表层及粗晶材料,提出一种用小波变换与广义相关倒频谱分析相结合的缺陷诊断方法。该方法利用小波多分辨特性去除白噪声,利用广义相关倒频谱剔除始脉冲及材料散射噪声。
【机 构】
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北京理工大学机械与车辆学院,装甲兵工程学院装备再制造技术国防科技重点实验室
【出 处】
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中南大学学报(自然科学版)
【发表日期】
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2013年7期
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