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采用螺旋波等离子体辅助射频磁控溅射技术,在α-Al2O3衬底上制备了N-Al共掺ZnO薄膜样品。Hall测量表明室温下ZnAlO:N薄膜为n型传导,在O2等离子体气氛中550℃退火后变为p型。p型ZnO薄膜的载流子浓度为2.1×1016 cm-3,霍尔迁移率为5 cm2/V.s。用X射线光电子能谱仪(XPS)对退火前后的ZnO薄膜进行了各元素的化学态分析。XPS结果表明,ZnAlO:N薄膜中存在两种与N元素有关的缺陷,N原子替代O位形成的(N)O和N分子替代O位形成的(N2)O。退火后ZnAlO