论文部分内容阅读
研究了1 MeV不同剂量电子辐照前后SiGe异质结晶体管(HBT)的直流特性,并与Si双极晶体管(BJT)进行了比较.结果表明辐照后SiGe HBT的IB基本不变,IC和β都下降;随电子辐照剂量的增加,IC和β都减小.对Si BJT而言,IB和IC与在相同辐照剂量辐照后的SiGe HBT相比都增大很多,β下降幅度也很大.这说明SiGe HBT具有比Si BJT更好的抗辐照性能.对电子辐照后器件电学性能的变化机制进行了初步分析.