1.55μmSi_(1-x)Ge_x/Si光开关与光探测器集成的分析及设计

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对1.55μm波长的Si1-xGex光波导开关和Si1-xGex/Si红外探测器的集成结构进行了系统的理论分析和优化设计。设计结果为:(1)对Si1-xGex光开关,Ge含量x=0.05,波导的内脊高、脊宽和腐蚀深度分别为3,8.5和2.6μm,分支角为5~6°。要实现对1.55μm波长光的开关作用,pn+结上所需加的正向偏压值应为0.97V;(2)对Si1-xGex/Si探测器,Ge含量x=0.5,探测器由23个周期的6nmSi0.5Ge0.5和17nmSi交替组成厚度为550nm,长度约为1.5~2mm的超晶格,内量子效率达80%以上。 The integrated structure of Si1-xGex optical waveguide switch and Si1-xGex / Si infrared detector with 1.55μm wavelength is systematically analyzed and optimized. The design results are as follows: (1) For the Si1-xGex optical switch, the Ge content is x = 0.05. The waveguide internal ridge height, ridge width and corrosion depth are 3, 8.5 and 2.6 μm, 6 °. In order to achieve the switching function of 1.55μm wavelength light, the forward bias value required on the pn + junction should be 0.97V; (2) For the Si1-xGex / Si detector, the Ge content x = 0.5, The detector consists of 23 periods of 6nmSi0.5Ge0.5 and 17nmSi alternately composed of superlattices with a thickness of 550nm and a length of about 1.5 ~ 2mm, the internal quantum efficiency of more than 80%.
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