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从技术差距和吸收能力角度将OFDI逆向技术溢出引入Bruno和Lichtenberg提出的国际技术溢出测度模型。利用面板门槛模型方法和2003--2014年我国30个省级行政区OFDI数据，检验OFDI逆向技术溢出是否存在“最佳技术差距区间”。实证结果表明，技术差距与OFDI逆向技术溢出存在双门槛效应；在双门槛决定的最佳技术差距区间内，相关地区的企业对先进技术吸收能力最强，OFDI带来的逆向国际技术溢出效果最优。