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本文采用恒流充放电考察SiO的电化学性能,并在0.5MHz至0.001Hz的频率范围内,通过交流阻抗技术研究SiO电极在首次嵌锂反应中的电极过程。对不同电压区间下测得的交流阻抗图谱,提出不同的等效电路模型并对结果进行了拟合。通过拟合结果,探讨了SiO电极过程动力学以及嵌锂过程中电极界面的变化特性。