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V93000 SoC测试系统与Inovys FaultInsyte硅片调试软件结合一起,可满足更高效调试的需求,加速新的系统级芯片(SoC)器件的批量生产。这是一款集成式解决方案,通过把电路故障与复杂的系统级芯片上的物理缺陷对应起来,可以大大缩短错误检测和诊断所需的时间,明显地缩短了制造商采用90nm(及以下)工艺调试、