X-射线荧光光谱法在分析冰晶石、电解质各组分中的应用

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本文采用将0.5g硼酸与10g样品混合研磨的方法来制备待测样片,该方法可使部分无法直接压制成型的样品压制成底部光滑的样片。建立工作曲线时采用将电解质与冰晶石标样拟合为一条曲线的方法,这样工作曲线建立后可同时测量冰晶石与电解质样品,同时也扩展了各组分的测量范围。方法准确性试验表明本方法准确性良好。在实际样品测量中,本方法所得结果与化学法数值吻合较好。
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