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本文主要阐述SF200L耳机综合测试仪检验手机耳机的方法，以及在检测过程中的要素问题。
用SF200L耳机综合测试仪检验手机耳机
【摘 要】
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本文主要阐述SF200L耳机综合测试仪检验手机耳机的方法，以及在检测过程中的要素问题。
【机 构】
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深圳市三凡科技有限公司
【出 处】
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电子质量
【发表日期】
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2006年4期
其他文献
本文介绍了时频域及脉冲分析仪触发方式和测量模式的特点。并在此基础上提出了本系统触发模块硬件设计方案，论述了时频域分析仪触发的实现原理和实现方法。