【摘 要】
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为了对石英晶体在通讯波段1 310nm处的双折射率进行精密测量,基于椭偏光谱仪对P和S两方向上偏振光相位差的精密测量原理,在透射模式下,通过对琼斯矩阵的分析,设计了一种精密
【基金项目】
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国家自然科学基金项目（60976015）,山东省自然科学基金项目（ZR2009GL010）和浙江省科技厅分析测试科技计划项目（2011C37046）资助
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为了对石英晶体在通讯波段1 310nm处的双折射率进行精密测量,基于椭偏光谱仪对P和S两方向上偏振光相位差的精密测量原理,在透射模式下,通过对琼斯矩阵的分析,设计了一种精密测量晶体双折射率的方法,并在室温（22℃）下对通讯波段1 310nm处石英晶体的双折射率进行了精密测量,测量结果和对误差的分析显示,此方法给出的双折射率测量值的精度高达10-6量级,为目前可查阅的最高精度,对于提高石英晶体相位延迟器件的设计精度具有重要的意义。韩培高
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