论文部分内容阅读
采用实验和有限元模拟，研究了底充胶分层和ＳｎＰｂ焊点的可靠性。结果表明，底充胶分层易发生在芯片／底充胶界面边缘处；当底充胶与芯片粘合强度较弱时，底充胶的早期分层是焊点中裂纹萌生扩展从而导致失效的直接原因；当底充胶与芯片粘合强度较强时，分层可以削弱底充胶对焊点的机械耦合作用，从而影响焊点的热循环寿命，此时，焊点热疲劳裂纹是焊点失效的直接原因。