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随着超大规模集成电路（VLSI）以及片上系统（SoC）设计的日益复杂，基于现场可编程门阵列（FPGA）的硬件仿效成为了必要环节。为解决逻辑设计下载到基于FPGA的硬件仿效器后内部节点不可视的问题，提出一种调试系统，该调试系统使用了RTL级植入调试逻辑的调试方法，统一的用户界面和软件侧底层接口，并提供了ELA模式、Scan模式和Snapshot模式。所有模式均使用统一的外部接口，使得调试系统同时适用于Altera和Xilinx的FPGA。实验结果表明，与SignalTap和ChipScope模式相比，ELA