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为减少、消除由于光照空间和相机空间采样密度不匹配造成的走样现象,提出一种亚像素级准确的硬阴影反走样绘制方法。该方法从光源视角抽取场景前表面的几何图元,利用保守光栅化方法存储固定大小、局部近似的场景可见三角形;计算纹素的顶点坐标,检测跨纹素几何图元,精确重建阴影测试深度。测试实验表明,几何图元覆盖检测算法能准确检测出纹素中包含的90%以上的隐含三角形,算法有较好的适应性,能有效减少阴影图算法的走样问题。