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给出一种数字集成电路(IC)测试系统的软硬件设计方案.该系统基于自定义总线结构,可测试宽范围电平.
一种数字IC测试系统的设计
【摘 要】
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给出一种数字集成电路(IC)测试系统的软硬件设计方案.该系统基于自定义总线结构,可测试宽范围电平.
【机 构】
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西安交通大学
【出 处】
：
电子产品世界
【发表日期】
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2004年02A期
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