Ge:SiO2的光敏缺陷的研究

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研究了Ge;SiO2光敏缺陷的特性,分别在488nmAr离子激光与193nmAr准分子激光作用下,由紫外吸收带,激光荧光的测量实验及电子自旋共振实验,发现光纤中5.1eV锗缺陷吸收带实验上是由5.06eV可光致漂白带与5.17eV不可漂白带组成;295nm的激发荧光与5.06eV的缺氧锗缺陷对应,随5.06eV缺陷吸收带的漂白而衰减;
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